YAMADA山田光學(xué) 檢測(cè)燈 YP-250I

高亮度鹵素光源

該照明裝置可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上，是一種用于宏觀觀察的照明裝置。半導(dǎo)體行業(yè)，液晶面板行業(yè)等都適用

總結(jié)

1.樣品表面可照亮400，000Lx以上。

2.采用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗虼松珳馗?，照明不均勻度小，照?br _mstmutation="1" _istranslated="1"/>非常穩(wěn)定銳利。

3.使用冷鏡的散熱效果
極低，是傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。

4.兩級(jí)切換機(jī)制
，只需輕輕一按即可在高照度觀察和低照度觀察之間切換。
YP-2I???照度范圍φ150 YP-30I?照度范圍φ250
（
YP-60I可在螺旋槳風(fēng)扇型和風(fēng)管風(fēng)扇型之間進(jìn)行選擇。 ）